Dettagli:
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Superficie: | Grado ottico | Trasmissione: | > 90% |
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Rivestimento: | Disponibile | Trattamento: | lucidatura |
Applicazione: | Ottica e laser | Produttori OEM: | Disponibile |
Evidenziare: | Substrati di vetro ottico,vetro ottico con rivestimento antiriflesso,Sistemi di ispezione Substrati di vetro ottico |
Sottostrati di vetro ottico con rivestimento antiriflesso per sistemi di ispezione
Materiale:
Substrato di base: vetro borosilicato ad alta precisione (ad esempio, Borofloat 33) o silice fuso, selezionato per una piattezza eccezionale, stabilità termica e resistenza chimica.
Tecnologia di rivestimento: rivestimenti dielettrici a più strati (ad esempio MgF2, SiO2, Ta2O5) applicati mediante sputtering magnetronico di precisione o deposizione a vapore.
Tipo di progettazione: personalizzabile come AR a banda larga (spettro visibile NIR) o rivestimento in V (ottimizzazione a lunghezza d'onda singola).
Proprietà chiave:
Riflettività ultra-bassa: raggiunge <0,5% di riflettività superficiale (rispetto al 4-8% per il vetro non rivestito), massimizzando la portata luminosa.
Alta efficienza di trasmissione: fornisce una trasmissione della luce >99,5% nelle lunghezze d'onda bersaglio, riducendo al minimo la perdita di segnale.
Stabilità angolare: mantiene le prestazioni su angoli di incidenza da 0 a 45° critici per l'imaging obliquo.
Durabilità ambientale: resiste alla delaminazione, all'umidità e alla degradazione UV in funzione continua.
Qualità superficiale: la rugosità sotto-Ångstrom (<5Å Ra) impedisce la diffusione della luce.
Resilienza termica e chimica: resiste ai solventi di pulizia e al ciclo termico (-60°C a +300°C).
Funzione primaria:
Per eliminare i riflessi e massimizzare il contrasto nei sistemi di ispezione ottica ad alta precisione.
Minimizza le immagini fantasma e i lampi causati dai riflessi superficiali.
Migliora il rapporto segnale-rumore per un accurato rilevamento dei difetti.
Conserva l'intensità della luce attraverso percorsi ottici complessi.
Principali applicazioni nei sistemi di ispezione:
Metrologia dei semiconduttori:
Scanner per difetti di wafer
L'ottica per l'ispezione della litografia EUV
Sistemi di allineamento delle maschere
Controllo ottico automatizzato (AOI):
Verifica dell'assemblaggio dei PCB
Determinazione dei difetti del pannello di visualizzazione (OLED/LCD)
Imaging biomedico:
Obiettivi del microscopio per la patologia
Lenti per la citometria di flusso
Sistemi di visione industriale:
Sensori di triangolazione laser
Lenti a visione artificiale per linee di montaggio
DNT aerospaziale:
Finestre di sonda ad ultrasuoni
Optica endoscopica per l'ispezione delle turbine
Test di fotonica:
Dischi di interferometro ottico
Finestre di spettrometro
In sostanza:Sottostrati di vetro ottico con rivestimento antiriflessosono componenti di progettazione di precisione che risolvono problemi di precisione indotti dalla riflessione nei sistemi di ispezione critici.Applicando rivestimenti dielettrici avanzati a più strati su substrati di borosilicato ultrapiatto o di silice fuso, raggiungono prestazioni di superficie quasi invisibili (riflettività < 0,5%), consentendo il rilevamento dei difetti a scala micron/submicron.Questi substrati migliorano direttamente l'affidabilità della metrologia dei semiconduttori, attrezzature AOI, e strumenti di imaging biomedici dove ogni fotone conta.
Nome | Disco di vetro, wafer di vetro, substrato di vetro, vetro visivo |
di piombo | |
Tolleranza di diametro | +0/- 0,2 mm |
Tolleranza dello spessore | +/- 0,2 mm |
Trattamento | Tagliando, macinando, lucidando |
Temperatura di funzionamento | Resistenza agli urti ad alta temperatura |
Qualità della superficie | 80/50,60/40,40/20 |
Qualità materiale | Niente graffi e bolle d'aria |
Trasmissione | > 90% per la luce visibile |
Campione | 0.1-0.5 mm x 45 gradi |
Rivestimento superficiale | Disponibile |
Utilizzatori | Fotografia, sistema di illuminazione, zona industriale. |
Persona di contatto: Mr. Dai
Telefono: +86-13764030222
Fax: 86-21-58508295